热释光读数器是一款可高质量、高可靠性和高性价比的热释光或光释光读数器。读数器可以有效策略装在剂量盒内的热释光或光释光材料吸附的辐射剂量。读数器手动操作，可以单片或两片（或定制多片）连续读取如圆片、方片、玻璃管、粉末等各种形状的热释光元件。IDMS软件集成有结果数据库，操作人员可以轻松管理各种格式的测量数据和生成特定格式的测量报告。
应用领域
放射治疗及诊断剂量的验证、全身及皮肤照射剂量检测、危机器官的剂量验证、质量保证中的CT 剂量验证、环境辐射剂量检测、辐照食品的测试、考古及地质放射性年代测定等
功能特点
- 可扩展光释光测量功能
- 操作简单，具有良好的人机界面，方便快速操作
- 自带诊断功能、运行进程显示和语音提示功能
- 具有噪声抑制能力，自动本底扣除功能
- 可加中密度滤光片扩展量程（2级）
- 接触式电极加热，线性升温
- ABS机箱，坚固耐用
- 接口丰富，具有标准的 RS232/USB/RJ45 网络接口；
- 安全可靠，运行稳定，核心部件、MCU、接口芯片全部采用国产器件，可替代性强、保供能力好
热释光读数器
- 运行方式：单次单样品测量（或两片或定制多片）
- 探测方式：光电倍增管探测，模拟信号放大处理
- 交互方式：带有触摸屏人机界面和应用软件同步双工作业 维护模式 带有自诊断功能;模块化设计便于现场快速更换
- 适配剂量片：国内通用的片状、粉末状、棒状、薄膜β剂量元件、特定中子剂量片及其它特殊样品等
- 测量射线：γ，β，X，中子射线
- 加热方法：电极加热、线性升温，适于 LiF(Mg,Cu,P)片，最高温 500°C
- 加热温度：重复性:≤1%;偏差:≤±2°C 加热时间 0~400s;时间重复性:≤0.1% 升温速率 0°C/s~50°C/s
- 控温精度：可任意设置设置温度的±1%
- 测量方式：光电倍增管(PMT)，模拟信号放大 109量级
- 高压供应：高压 0~1200V 可调节，高压稳定性:±0.005%
- 探测单元制冷：半导体加控制制冷，制冷温度可设置
- 测量量程：0.01μGy~10Gy；最高至 300Sv(敏化镁钛片)；可扩展；
- 测量分辨率：实验室条件下充分预热后可到 0.1μSv
- 测量稳定性：充分预热后连续 10 次测量，RSD≤1%
- 暗电流：预热后连续多次测读 RSD≤1%
- 参考光：预热后连续多次测读 RSD≤1%
退火炉
- 温度过冲值：预设值±2°C
- 温度稳定性：达到预设温度后波动范围±1°C
- 控制模式：微电脑程序控制、触摸屏显示
- 提示方式：语音提示测量进程或者设备状态
- 冷却方式：风冷、大面积金属板冷却
- 测温方式：热电偶接触测温
- 系统保护：自带过温保护开关
- 退火温度设置：0~400℃内手动设置
- 退火时间设置：100分钟内自由设置，达到设计温度后自动倒计时
微电脑芯片控制，全数字显示界面，升温速度快，控温精确，退火效率高
